ttl电路_ttl电路和cmos电路的区别

ttl电路
怎么能知道电路板上未知的芯片型号

  • 怎么能知道电路板上未知的芯片型号?电路原理图和电路板图都有,就是不知道其中的两款芯片,有大神能推测出来吗??
  • 使用电路板故障检测仪。相关电路板故障检测仪用法:1. 数字逻辑器件性能(直流参数)测试:维修实践发现,有些器件原有作用尚能实现,但参数却发生了变化,元件性能表现的很不稳定,设备或电路板仍然不能正常工作,为此天惠公司开发了针对集成电路直流参数的测试作用,支持对数字集成电路的输入漏电流和输出驱动电流等直流参数测试。如输入漏电流(Iih,IiL,Vih,ViL);输出驱动电流(IOL,IOh,VOL,VOh)。2. 数字逻辑器件在离线作用测试:能够对多逻辑电平数字逻辑器件进行在线离线作用测试;测试器件库庞大,仅逻辑数字器件就1 万多种;测试范围广:TTL5474系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄罗斯器件、西门子器件库。3.ASA(VI)模拟特征分析测试:ASA测试通过比较好电路板和故障电路板上相应器件管脚的特征曲线差异检测故障,可把故障定位到电路结点。ASA测试不涉及器件作用,无论何种元器件,模拟的、数字的、作用已知的、作用未知的都能检测;ASA测试是逐管脚进行的,基本上不受器件封装限制,任何封装形式的器件均可进行测试。 ASA测试无需给电路板加电,使用较为安全。4.单多端口VI曲线分析比较测试:对器件采取单端口或多端口的VI曲线测试方式;单端口测试方式是指每个管脚对地提取一遍阻抗特性曲线,而多端口是以任一脚做参考提取一遍VI曲线。5.ASA 曲线双棒动态比较测试:使用双路探棒对两块相同电路板上的相应节点时时的进行动态比较测试;当被测板上的器件不能使用测试夹测试时,此种方法最有效。6.ASA 曲线测试智能提醒作用:当使用双探棒进行比较测试时,如果超差,仪器会出现报警声音,引起使用者注意,该测试方法利用微机喇叭产生类似于万用表Bee

数字电路CMOS

  • 三四两题求详细解答
  • TTL门电路的输入端悬空时相当于高电平输入输入端接有电阻时其电阻阻值大于1.4K时该端也相当于高电平电阻值小于0.8K时该端才是低电平。 而CMOS逻辑门电路输入端不管是接大电阻还是接小电阻该端都相当于低电平即地电位。按照这个原则判断很清晰了

测量cmos门电路的延迟特性时为什么

  • 测量cmos门电路的延迟特性时为什么
  • TTL与非门的特性参数:1输出高电平U(OH):至少有一个输入端接低电平时的输出电平。电压传输特性的截止区的输出电压为3.6V,一般产品规定UOH≥2.4V即为合格。2输出低电平U(OL):输入全为高辅埂滇忌鄄涣殿惟东隶电平时的输出电平。电压传输特性的饱和区的输出电压为0.3V。一般产品规定UOL<0.4V时即为合格。 3开门电平U(ON):是保证输出电平达到额定低电平(0.3V)时,所允许输入高电平的最低值,表示使与非门开通的最小输入电平。一般产品规定UON≤1.8V。4关门电平U(OFF):是保证输出电平为额定高电平(2.7V左右)时,允许输入低电平的最大值,表示与非门关断所允许的最大输入电平。一般产品要求UOFF≥0.8V。5扇入系数N(i):是指与非门的输入端数目。6扇出系数N(O):是指与非门输出端连接同类门的个数。反映了与非门的带负载能力。7平均传输延迟时间t(pd):平均延迟时间是衡量门电路速度的重要指标,指一个矩形波信号从与非门输入端到与非门输出端所延迟的时间。通常将从输入波上沿中点到输出波下沿中点的时间延迟称为导通延迟时间t(PHL),从输入波下沿中点到输出波上沿中点的时间延迟称为截止延迟时间t(PLH)。tpd为t(PLH)和t(PHL)的平均值,TTL门的t(pd)在3~40ns之间。 8平均功耗P:指在空载条件下工作时所消耗的电功率。

USB转TTL是什么?

  • USB转TTL是什么?
  • 两者工作机制性不一样的,USB是一种常用的pc接口,他只有4根线,两根电源两根信号,USB接口的4根线肌恭冠枷攉磺圭委氦莲一般是下面这样分配的:黑线:gnd 红线:vcc 绿线:data+ 白线:data- TTL是数字电子技术中常用的一种逻辑门电路。被利用的最多是因为通常数据表示采用二进制规定,+5V等价于逻辑“1”,0V等价于逻辑“0”,这被称做TTL(晶体管-晶体管逻辑电平)信号系统,这是计算机处理器控制的设备内部各部分之间通信的标准技术。 USB控制是一个由硬件组成的处理系统来完成的。TTL只是数字电路。

马达驱动电路要选哪些公司的?

  • 马达驱动电路要选哪些公司的?
  • 特点不同,要看前后级的关系,第一种是跟随输出,输入阻抗高,输出阻抗小,当前级是高压小电流的时候好,并且输出电压是受控前级电压,可做限幅开关,输出是电压源。第二种是反向共射集电极输出,适合前级是低压大电流,输出是阻抗高,也是电流源,当负载变化时,电流不变。如果前级是低阻,如TTL,适合第二种。补充的电路是二者的结合,光耦的漏电流容易被放大,所以要加R大约2K左右(看光耦的害畅愤堆莅瞪缝缺俯画参数),如是继电器线圈,当释放电压低时,容易误动作,电流优点是可给线圈提快速建立电压。本例中如是继电器,属电流驱动,最好用集电极输出,但也要有R。补充:你是驱动电磁阀啊,又要晶体管功耗低,补充的驱动管子压降很大,只能是第二种,把阀接到集电极上,并且1A的驱动电流要再加一级组成复合管。

数字电路设计——定时器

  • 用CD4060和32768晶振产生时基,输出2Hz的型号,CD4520组成8位计数器进一步分频,8个输出与CD4068与非门的8个输入用开关控制是否相连,就可以得到255种时间。现在想用数码管显示时间,那么就要用到计数器,计数器的时钟信号必须是1Hz的,想从CD4060输出的2Hz信号分频输入到计数器时钟端。但是看到百度百科上CD4060的资料上说:CD4000系列驱动能力奇差,在设计时最多只能带1个TTL负载;我的这种想法还可不可行
  • 你这里没有用到TTL电路,所以,不用考虑驱动能力的,都是CMOS电路连接,要用数码管显示时间,也是可以的,CMOS电路中,有很多显示译码器的,可以直接驱动数码管的。在百度上看到的资料,要搞清是针对什么而讲的。如果你用CD4000系列驱动了TTL电路时,这种考虑是必要的。

用USB转TTL小板给stc单片机烧写停留在仍在连接中, 请给 MCU 上电。

  • 用USB转TTL小板给STC12c5a60s单片机烧写程序,T, R,V(5V),GND.都是直接连接到单片机上,小板经过程序测试是没问题的。但是当我用STC-ISP程序下载软件上检测mcu也是卡住, 检测不出来,单片机用的时钟晶振是12mhz的。单片机放到开发板是可以下载的,没坏。按 网上说的 t r反接也是不行。小板4跟线连接单片机后小板的灯只有电源那边的灯会亮。PS:我下载程序的步骤应该没问题,什么COM端,冷启动都注意了。是不能直连还是什么问题吗。网上说的p1.0和p1.1短接到地没明白,不懂什么意思 没去试过。已经没办法了,跪求帮助!
  • 你用的USB转TTL的驱动芯片是什么型号,驱动有没有装对,如果开发板上可以单单你的板子不行就是说明硬件问题,可能出现在1:最好在单片机的串口引脚串联一个22R电阻;2:检查你的电路电源和晶振问题,电源有没有在单片机上起作用,单片机晶振有没有起震。

数字电路CMOS

  • 三四两题求详细解答
  • TTL门电路的输入端悬空时相当于高电平输入输入端接有电阻时其电阻阻值大于1.4K时该端也相当于高电平电阻值小于0.8K时该端才是低电平。 而CMOS逻辑门电路输入端不管是接大电阻还是接小电阻该端都相当于低电平即地电位。按照这个原则判断很清晰了

怎么能知道电路板上未知的芯片型号

  • 怎么能知道电路板上未知的芯片型号?电路原理图和电路板图都有,就是不知道其中的两款芯片,有大神能推测出来吗??
  • 使用电路板故障检测仪。相关电路板故障检测仪用法:1. 数字逻辑器件性能(直流参数)测试:维修实践发现,有些器件原有作用尚能实现,但参数却发生了变化,元件性能表现的很不稳定,设备或电路板仍然不能正常工作,为此天惠公司开发了针对集成电路直流参数的测试作用,支持对数字集成电路的输入漏电流和输出驱动电流等直流参数测试。如输入漏电流(Iih,IiL,Vih,ViL);输出驱动电流(IOL,IOh,VOL,VOh)。2. 数字逻辑器件在离线作用测试:能够对多逻辑电平数字逻辑器件进行在线离线作用测试;测试器件库庞大,仅逻辑数字器件就1 万多种;测试范围广:TTL5474系列、8000系列、9000系列、CMOS4000系列、俄罗斯器件、西门子器件库。3.ASA(VI)模拟特征分析测试:ASA测试通过比较好电路板和故障电路板上相应器件管脚的特征曲线差异检测故障,可把故障定位到电路结点。ASA测试不涉及器件作用,无论何种元器件,模拟的、数字的、作用已知的、作用未知的都能检测;ASA测试是逐管脚进行的,基本上不受器件封装限制,任何封装形式的器件均可进行测试。 ASA测试无需给电路板加电,使用较为安全。4.单多端口VI曲线分析比较测试:对器件采取单端口或多端口的VI曲线测试方式;单端口测试方式是指每个管脚对地提取一遍阻抗特性曲线,而多端口是以任一脚做参考提取一遍VI曲线。5.ASA 曲线双棒动态比较测试:使用双路探棒对两块相同电路板上的相应节点时时的进行动态比较测试;当被测板上的器件不能使用测试夹测试时,此种方法最有效。6.ASA 曲线测试智能提醒作用:当使用双探棒进行比较测试时,如果超差,仪器会出现报警声音,引起使用者注意,该测试方法利用微机喇叭产生类似于万用表Bee

51单片机的温度采集系统设计

  • 撰写要求:(1)首先介绍课题背景,包括温度采集系统的发展、应用情况以及特点、原理,然后对51单片机的特点、功能引脚等进行简介;(2)根据设计要求给出设计方案,包括器件选择、单片机引脚分配等; (3)对各个模块的硬件电路进行设计,并给出软件开发流程; (4)总结:需要说明的问题以及设计的心得体会。问题补充: 急要80C51单片机的温度采集系统设计。那位大神帮帮忙,有报酬哦!
  • 第一章 确定系统功能与性能本系统的功能主要有数据采集、数据处理、输出控制。能对0~1000 ??c范围内的各种电加热炉的温度进行精密测量,同时,四位LED显示器直接跟踪显示被控对象的温度值,准确度高,显示清晰,稳定可靠,使用方便(在具体设计编程、调试过程中,为了调试方便,编程把温度范围设在0~100 ??c)。 本系统的原理框图如下图所示。 数据采集部分能完成对被测信号的采样,显示分辨率0.1??c,测量精度0.1??c,控制精度0.1??c,可以实现采集信号的放大及AD转换,并自动进行零漂校正,同时按设定值、所测温度值、温度变化速率,自动进行FID参数自整定和运算,并输出0~10mA控制电流,配以主回路实现温度的控制。数据处理分为预处理、功能性处理、抗干扰等子功能。输出控制部分主要是数码管显示控制。第二章 确定系统基本结构及硬件设计本单片机应用系统结构是以单片机为核心外部扩展相关电路的形式。确定了系统中的单片机、存储器分配及输入输出方式就可大体确定出单片机应用系统的基本组成。 1)单片机选用MCS-51系统的8031 8031是INTEL公司MCS-51系列单片机中最基本的产品,它采用INTEL公司可靠的CHMOS工艺技术制造的高性能8位单片机,属于标准的MCS-51的HCMOS产品。它结合了HMOS的高速和高密度技术及CHMOS的低功耗特征,标准MCS-51单片机的体系结构和指令系统。8031内置中央处理单元、128字节内部数据存储器RAM、32个双向输入输出(IO)口、2个16位定时计数器和5个两级中断结构,一个全双工串行通信口,片内时钟振荡电路。但80C31片内并无程序存储器,需外接ROM。此外,8031还可工作于低功耗模式,可通过两种软件选择空闲和掉电模式。在空闲模式下冻结CPU而RAM定时器、串行口和中断系统维持其功能。掉电模式下,保存RAM数据,时钟振荡停止,同时停止芯片内其它功能。8031有PDIP(40pin)和PLCC(44pin)两种封装形式。主要功能特性: · 标准MCS-51内核和指令系统 · 外部程序存储器ROM地址空间64kB · 32个可编程双向IO口 · 128x8bit内部RAM(可扩充64kB外部存储器) · 2个16位可编程定时计数器 · 时钟频率3.5-16MHz · 5个中断源 · 5.0V工作电压 · 全双工串行通信口 · 布尔处理器 · 2层优先级中断结构 · 兼容TTL和CMOS逻辑电平 · PDIP(40)和PLCC(44)封装形式

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